提供最全面的表面测量与成像技术

     ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准，这套测量系统拥有工业领先的测量性能和灵活性，采用专利白光干涉技术，超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，具有业界最高的垂直分辨率和测量重复性，凭借其独特的直观用户界面和功能最全的自动化检测、分析功能，方便用户快速高效的获得材料粗糙度、二维/三维表面分析以及高分辨成像，广泛应用于LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等各个领域，满足各种表面测量的实际需求。

高分辨测量成像技术

• 最高的垂直分辨率

• 最大的垂直计量范围

• 先进的防震设计，提高测试系统稳定性

• 高分辨彩色成像

强大的分析测试软件

• 简单高效，人性化的工作流程

• 实时自动优化测量

• 完整的数据分析软件包

• 用户自定义分析报告

ContourGT-K提供了无可比拟的表面检测性能和应用价值，完成各类测试要求，提供精准可靠的测试结果。