布鲁克的NPFLEXTM 3D表面测量系统为精密制造业带来前所未有的检测性能，缩短研发时间，提高了产品质量和生产力。基于白光干涉的原理，这套非接触系统提供了超过传统接触式测量技术的更多优点，这些仪器包括三坐标测试仪（CMM）和探针式轮廓仪等。测量优势包括获得高分辨的三维图像，进行快速丰富的数据采集，帮助用户更深入了解部件的性能和功能。

灵活性表现在可用于测量表征更大的面型和更难测的角度
• 创新性的空间设计使得可测零件（样品）更大、形状更多
• 开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测部位
高效的三维表面信息测量
• 每次测量均可获取多种分析结果
• 更容易获得更多的测量数据来帮助分析
垂直方向纳米分辨率提供更多的细节
• 干涉技术实现每一个测量象素点上的亚纳米级别垂直分辨率
• 工业界使用多年业已验证的干涉技术提供具有统计意义的数据，为日渐苛刻的加工工艺提供保障
测量数据的快速获取保证了测试的迅速和高效
• 最少的样品准备时间和测量准备时间
• 比接触法测量（一条线）更大的视场（一个面）获得表面更多的数据

测量不同尺寸、规格的样品，操作灵活，精确高效
NPFLEX测量系统，拥有超大测量空间，最高可测13英寸，这种创新性的空间设计，可以测量更大尺寸、更复杂形状的样品。开放式龙门、定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松测量想测的样品部位。开放式结构与Bruker光学镜头的专利投点/倾斜设计，实现了更长的工作距离下获得理想的数值孔径。这使得NPFLEX善于测量深沟，高纵横比的孔洞，或表面高低起伏比较大的作品。

卓越品质，坚固耐用
NPFLEX整体设计兼顾耐用，大理石机台可以承受最重高达170磅的样品。开放式龙门设计可以灵活性测量表征更大的面型和更难测的角度。定制的夹具和可选的摇摆测量头可轻松的转换测量方向，表征样品的不同位置。使用NPFLEX，对于样品大小，取样过程以及实验环境的要求，都相对宽松很多，使得实验可以灵活简便的完成，帮助生产者获得产品性质的精密数据。

纳米级分辨率的三维表面信息测量
大家对很多样品的表面性质感兴趣，但是要获得这些样品性质，需奥检测大量的样品表面定量星系。许多应用在航空航天，汽车，医疗植入产业的大尺寸样品。往往只能借助于二维接触式检测工具经行表征，仅限于获取单一的线性数据。二维扫描能够提供样品的表面轮廓，但是无法深入研究样品表面更精确的纹理细节信息。
NPFLEX测试系统采用白光干涉原理，在每一个测量点都可以实现表面形貌的三维信息收集，且具有亚纳米级的垂直分辨率。所收集的数据不受探针最重尺寸的局限，高效的三维表面信息测量可获取除表面粗糙度以外的多种分析结果，更多的测量数据来帮助分析样品性质。

快速获取数据，保证测试迅速高效
NPFLEX三维测量系统，能够灵活高效的获取大量测试数据。大大缩短了样品制备时间和测量方案设置时间，操作者可以快速更换样品，而且无需全面掌握样品形状和表面形貌的前提下，对样品的不通表面进行测量。仅需要不到15秒的时间，就可以出色地完成一个测量点的数据采集和分析工作。
自动对焦，光强度调节以及其他配套软件功能，大大节约了测试分析时间，而且可以根据操作者的实验需求，量身定做最优化的实验方案，而不影响数据的精度和质量。利用NPFLEX可以高效、快捷、灵活、准确地获得大型零部件的高精度测量结果，提供一站式的测量解决方案。

NPFLEX三维测量体系--全新表征技术，概念终成现实
广泛应用于研发领域
生产过程和产品质量监控
失效分析
性能卓越的测量体系，独特的开放式大样品台，灵活高效地获取精确数据